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    技術文章/ article
    
        
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    SHASHINA KAGAKU日本寫真化學 紅外線透過式薄片厚度監(jiān)視器
    
            
    更新時間：2023-12-08      瀏覽次數(shù)：314
    
            
    
            	 
    特征
    紅外板厚度監(jiān)視器測量半透明板的厚度，如電池隔板、低反射涂層(如黑色保護層)和硅。它
    可用于從實驗室水平到生產(chǎn)中在線100%檢測的所有應用。紅外吸收系統(tǒng)由一個帶有透射光
    學系統(tǒng)的緊湊型鏡面探頭組成，可在100多個波長下同時測量多種參數(shù)，如薄膜厚度、密度
    和成分。
    THORLABS (1).png


      • 1
      • 測量半透明板、低反射膜、硅等的厚度。這對于光學干涉測量來說是很困難的

      • 2
      • 緊湊型探針
        通過采用小型30 mm反射式探頭，可以安裝在設備或生產(chǎn)線中的狹小空間內。此外，由于探頭僅通過光纖電纜連接到主體，因此它具有優(yōu)異的耐環(huán)境性。

      • 3
      • 高速測量
        從950納米到1650納米的近紅外波長在100個點或更多點的同步采樣

      • 4
      • 厚度測量再現(xiàn)性小于等于0.1%(3σ)

      • 5
      • 測量算法
        算法校準樣品參數(shù)數(shù)量
        蘭伯特-啤酒定律1厚度
        最小二乘回歸方法2或更多多參數(shù)
        (厚度、密度、復合比率等)

    
            
    
         	
                                            
        
    
      
      
    
    
  
    

    

 



    
  
    
    
    
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