精品国产精品三级精品AV网址,67pao国产成人免费,国产超碰欧美,天天插网站

<label id="n9b88"></label>
    <label id="n9b88"><legend id="n9b88"><th id="n9b88"></th></legend></label>
    

    

    <span id="n9b88"></span>
  • <thead id="n9b88"></thead>
    • 



 
 




    
 



 



    
  
    
    
    
      
    
        
    產品分類
          
    products category
    
        
    
        
    
            
        
    
      
    
    
    
    
    
      
    
        
    技術文章/ article
    
        
     您的位置：首頁  -  技術文章  -  日本takano 晶圓視覺檢測設備Vi系列的產品介紹 
    
        
    
      
    
      
    
        	
    日本takano 晶圓視覺檢測設備Vi系列的產品介紹
    
            
    更新時間：2024-08-08      瀏覽次數：424
    
            
    
            	 
    日本takano 晶圓視覺檢測設備Vi系列
    我們高速、高精度地檢查晶圓布線圖案、裂紋、異物污染等產品外觀。
    ●產品信息
    Vi系列規格
            Vi-4207R、C               Vi-4307M，C               Vi-5301M  
    晶圓尺寸         ～200毫米          ～300毫米                   ～300毫米
    處理                 機器人                          機器人                         機器人
    裝載機     打開盒式磁帶                開放式盒式磁帶、FOUP、FOSB
    缺陷尺寸(μm)             1.2/ 2.4/5.0（物鏡10x/5x/2.5x）     
    尺寸         W2280xD1140xH2060    W2280xD1140xH2060  寬2600x深1440x高1790
    重量                 1650公斤                    1700公斤                2800公斤
    應用    CMOS圖像傳感器、功率器件、RF濾波器、MEMS、玻璃、TAIKO晶圓
    1. 缺陷示例

    image.png

    2、按區域（層）分類精細檢測
    ●區域分類根據器件圖案的特征實現多種檢測靈敏度和容差。
    ●每個區域都可以有檢查參數。

    3.通過各種照明和彩色圖像來精細化圖像
    ●灰度檢測無法檢測到的缺陷可以通過彩色檢測來檢測。
    ●各種光的組合使看不見的缺陷變得可見。


    
            
    
         	
                                            
        
    
      
      
    
    
  
    

    

 



    
  
    
    
    
     版權所有©2025 深圳九州工業品有限公司 All Rights Reserved   備案號：粵ICP備2023038974號   sitemap.xml   技術支持：環保在線   管理登陸