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2024-07-01 產(chǎn)品中心/ products
美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE性能指標(biāo)1.三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)2.真藍(lán)光激光器（非LED）3.分別針對(duì)球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計(jì)算的算法4.測量范圍從0.01到2800微米5.干濕測量6.封閉的光路可確保對(duì)光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù)，幾乎不需要操作員干預(yù)
產(chǎn)品型號(hào)：BLUEWAVE廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-11-06訪 問 量：327
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美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標(biāo)
1.三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.真藍(lán)光激光器（非LED）
3.分別針對(duì)球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計(jì)算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對(duì)光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù)，幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點(diǎn)
1.利用藍(lán)激光，低端范圍測量的分辨率得以提高，從而顯著提高了低于1微米的測量精度。
2.專有的修正Mie理論計(jì)算使用戶能夠準(zhǔn)確測量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測量的非球形顆粒
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時(shí)間
4.固定的撿測器可提供堅(jiān)固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置
5.小巧的占用面積減少了對(duì)寶貴實(shí)驗(yàn)室空間的需求
美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標(biāo)
1.三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.真藍(lán)光激光器（非LED）
3.分別針對(duì)球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計(jì)算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對(duì)光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù)，幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點(diǎn)
1.利用藍(lán)激光，低端范圍測量的分辨率得以提高，從而顯著提高了低于1微米的測量精度。
2.專有的修正Mie理論計(jì)算使用戶能夠準(zhǔn)確測量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測量的非球形顆粒
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時(shí)間
4.固定的撿測器可提供堅(jiān)固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置
5.小巧的占用面積減少了對(duì)寶貴實(shí)驗(yàn)室空間的需求
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