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EC-80P是由日本Napson公司推出的手持式渦電流非接觸式量測設備。
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napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-80MAP的介紹多種非接觸式探頭的寬量程電阻測量儀（可根據要求更改探頭數量和探頭類型）可從 8mm 邊緣進行多點測量非接觸式渦流法可實現無損傷測量測量模式可編程和 2-D/3-D 映射軟件*選項：額外安裝晶圓厚度測量探頭
產品型號：NC-80MAP廠商性質：經銷商更新時間：2023-04-15訪 問 量：885
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napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-80MAP的介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-80MAP的介紹
多種非接觸式探頭的寬量程電阻測量儀
（可根據要求更改探頭數量和探頭類型）
可從 8mm 邊緣進行多點測量
非接觸式渦流法可實現無損傷測量
測量模式可編程和 2-D/3-D 映射軟件
*選項：額外安裝晶圓厚度測量探頭
半導體/太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜（金屬、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*請聯系我們）
2 至 8 英寸
（可選；12 英寸）
[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
（*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時）
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*請參閱以下各探頭類型的測量范圍。
(1) 低：0.01 ～ 0.5Ω/□ (0.001 ～ 0.05Ω-cm)
(2) 中： 0.5 ～ 10Ω/□ (0.05 ～ 0.5Ω-cm)
(3) 高：10 ～ 1000Ω/square (0.5 ～ 60Ω-cm)
(4) S-High : 1000 to 3000Ω/square (60 to 200Ω-cm)
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