精品国产精品三级精品AV网址,67pao国产成人免费,国产超碰欧美,天天插网站

<label id="n9b88"></label>

    <label id="n9b88"><legend id="n9b88"><th id="n9b88"></th></legend></label>

    
    
    <span id="n9b88"></span>

  • <thead id="n9b88"></thead>

  • 產品分類

    products category

    產品中心/ products

    您的位置:首頁  -  產品中心  -  儀表,電子設備  -  otsukael  -  SLS-6500HLotsukael積分光度計

    otsukael積分光度計

    otsukael積分光度計除了可以進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏光法外,它還通過實現(xiàn)自動可變測量角度機構來兼容所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉分析器方法外,還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機構提高了測量精度。

    • 產品型號:SLS-6500HL
    • 廠商性質:經銷商
    • 更新時間:2023-04-21
    • 訪  問  量:3465
    立即咨詢

    聯(lián)系電話:

    產品詳情
    品牌其他品牌產地國產

    otsukael靜態(tài)光散射光度計 積分光度計SLS-6500HL的介紹

    除了可以進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏光法外,它還通過實現(xiàn)自動可變測量角度機構來兼容所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉分析器方法外,還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機構提高了測量精度。

    特征:
    • 可在紫外-可見(300 至 800 nm)波長范圍內測量橢圓參數(shù)

    • 能夠分析納米級多層薄膜的膜厚

    • 通過 400 通道或更多通道的多通道光譜快速測量橢圓光譜

    • 支持通過可變反射角測量對薄膜進行詳細分析

    • 通過創(chuàng)建光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫和添加配方注冊功能提高可操作性

     

    測量項目
    • 橢圓參數(shù)(tanψ,cosΔ)測量

    • 光學常數(shù)(n:折射率,k:消光系數(shù))分析

    • 膜厚分析

     

    測量對象
    • 半導體ウェーハ
      ゲート酸化薄膜,窒化膜
      SiO2,SixOy,SiN,SiON,SiNx,Al2O3,SiNxOy,poly-Si,ZnSe, BPSG,TiN
      レジストの光學定數(shù)(波長分散)

    • 化合物半導體
      AlxGa(1-x)As 多層膜,アモルファスシリコン

    • FPD
      配向膜

    • 各種新素材
      DLC(Diamond Like Carbon),超伝導用薄膜,磁気ヘッド薄膜

    • 光學薄膜
      TiO2,SiO2,反射防止膜

    • リソグラフィー分野
      g線(436nm),h線(405nm),i線(365nm)などの各波長におけるn,k評価

     

    在線咨詢

    留言框

    • 產品:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯(lián)系電話:

    • 常用郵箱:

    • 省份:

    • 詳細地址:

    • 補充說明:

    • 驗證碼:

      請輸入計算結果(填寫阿拉伯數(shù)字),如:三加四=7
    關于我們
    新聞資訊
    聯(lián)系我們
    產品中心
    掃一掃
    加微信
    版權所有©2025 深圳九州工業(yè)品有限公司 All Rights Reserved   備案號:粵ICP備2023038974號   sitemap.xml   技術支持:環(huán)保在線   管理登陸