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    技術文章/ article

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    適用于D F G J K級 晶片 晶圓 引腳型電阻的區分機,編帶機的電阻檢測計

    更新時間:2024-05-24      瀏覽次數:289


    適用于D,F,G,J,K級,晶片,晶圓,引腳型電阻的區分機,編帶機的電阻檢測計

    AE·MIC AEMIC CORPORATION驚 異的超高速.高精度 數位 電阻檢測計 

    image.png


    AE-162D 超高速高精度數位電阻檢測計

    最的適合用于:D,F,G,J,K級,晶片,晶圓,引腳型電阻的區分機,編帶機

    超高速:0.7msec(代表值)

    消除熱電動勢的測量影響.達到高精度高穩定度

    邏輯電路與數字電路隔離絕緣,通過耐雜訊提高高穩定度

    每范圍通過測量值積分時間設定功能,達到超高速高穩定測量■絕對值測量:0.00mΩ~200.00MΩ%測量:5mΩ~109MΩ[±99.99%]

    接觸·檢查選擇:測量前/測量后/OFF (不接觸)

    RS-232C介面為標準配備[可選購GP-IB ]

    印表機輸出為標準配備(符合Centronics)

    設定數據傳送功能為標準配備(可把一臺機的設定數據發到另一臺機上)

    檢查測量電流/電壓是否異常的電路為標準配備

    選購

    GP -I B介面/電磁電源DC 24V / 1A/數據傳輸線

    • 規格&參數

    •  

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    測量範圍及基本精度(at23℃ ± 5℃),校正後1年

    量程

    標準值設定範圍

    測量電流

    測量精度

    SLOW

    FAST

    100mΩ

    5mΩ~100mΩ

    100mA

    ±0.02% ± 2α ± 2d以內

    ±0.03% ± 3α ± 2d ± [ 2/(1+n) ]d以內

    100.1mΩ~1Ω

    100mA

    ±0.02% ± α ± 1d以內

    ±0.02% ± α ± 2d ± [ 2/(1+n) ]d以內

    10Ω

    1.001Ω~10Ω

    50mA

    100Ω

    10.01Ω~100Ω

    10mA

    ±0.02% ± 1d以內

    ±0.02% ± 2d ± [ 1/(1+n) ]d以內

    1kΩ

    100.1Ω~1kΩ

    5mA

    10kΩ

    1.001kΩ~10kΩ

    0.5mA

    100kΩ

    10.01kΩ~100kΩ

    50μA

    1MΩ

    100.1kΩ~1MΩ

    5μA

    ±0.05% ± 2d ± [ 1/(1+n) ]d以內

    10MΩ

    1.001MΩ~10MΩ

    0.5μA

    ±0.03% ± 1d以內

    ±0.2% ± 4d ± [ 1/(1+n) ]d以內

    100MΩ

    10.01MΩ~109MΩ

    0.05μA

    ±0.1% ± 2d以內

    ----

    d:digits,n:積分時間(msec.)百分比測量時:α=(100 /標準設定值mΩ) × 0.01%
    對值測量時:α= 0 (±1d)[ FAST ]測試時精度需要測試線完的全的屏蔽

    測試

    時間

    外部觸發

    空運行

    SLOW

    FAST

    SLOW

    FAST

    約18msec~400msec

    約0.7msec.~400 msec.

    約30次/秒~ 2次/秒

    約60次/秒~ 2次/秒


    測量結束信號(EOC)脈衝寬度

    1~250msec.能連續設定

    測量方式

    4端子/ 2端子 測量轉換

    判斷值設定範圍

    %測量:±99.99%
     絕對值測量:00000~20000

    使用周圍環境

    溫度:0℃~+50℃,濕度:80%以下

    所要電源

    AC85V~265V,50~60Hz,約50VA

    外形尺寸

    約333(W)×99(H)×300(D)mm (不含有橡膠腳等的突起物。)

    重量

    約3.8kg


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